ZX900 AOI視覺檢測設備
? 一款多角度自動AOI系統檢測設備。適用于：半導體先進封裝工藝的產品視覺檢測設備。
? 檢測能力：殘膠、RDL短/斷路、Bump變形受損；PI變色、各類金屬殘留、滲鍍、來料異常、晶圓
表面劃傷外來物識別等。
? 表面檢測圖形晶圓表面檢測(AOI) ；檢測亞微米量級的二維圖形缺陷。
? 支持晶圓尺寸：兼容200mm/300mm（支持±2.5mm翹曲片）
? 分辨率0.45um – 9um。
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半導體AOI視覺檢測設備
AOI視覺檢測設備
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時間：2015-12-14
設備型號：ZX900
適用芯片：CIS、WLCSP、TSV...
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